產(chǎn)品中心
Product Center
熱門搜索：
JNM-ECZR 系列核磁共振譜儀
軟X射線分析譜儀
液氮液氦回收系統(tǒng)
ROHS金屬成分分析儀
JNM-ECZS 系列 核磁共振譜儀
IB-19530CP日本電子JEOL截面拋光儀制樣設(shè)備
JSM-IT700HR日本電子掃描電鏡
掃描電鏡價(jià)格
JCM-7000 NeoScope™JEOL臺(tái)式掃描電子顯微鏡
JSM-IT510日本電子SEM
JCM-7000 NeoScope™日本電子臺(tái)式掃描電鏡
SEM掃描電鏡
EM-09100IS離子切片儀
JNM-ECZL 系列 核磁共振譜儀
IB-09060CIS™低溫冷凍離子切片儀
IB-19530CP截面樣品制備裝置
當(dāng)前位置：首頁
產(chǎn)品中心制樣設(shè)備IB-09060CIS™低溫冷凍離子切片儀
產(chǎn)品簡介
IB-09060CIS™ 低溫冷凍離子切片儀易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。冷卻保持時(shí)間長，有效地抑制了熱損傷。
| 品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子,綜合 |
低溫冷凍離子切片儀帶有樣品冷卻系統(tǒng)，對(duì)容易受熱損傷的樣品也可以進(jìn)行截面制備的離子切片儀。
低溫冷凍離子切片儀特點(diǎn)：
①通過液氮制冷，減輕了離子照射時(shí)對(duì)樣品造成的熱損傷。
②可以用于制備TEM的薄膜樣品和SEM的截面樣品*
?、劾鋮s保持時(shí)間長，大大減少了熱損傷。
④在裝有液氮的情況下，也可以交換樣品。
*最大樣品尺寸:2.8mm(長度)×1.0 mm(寬度)×0.1mm(厚度)。
帶有樣品冷卻系統(tǒng)，對(duì)容易受熱損傷的樣品也可以進(jìn)行截面制備的離子切片儀。
?、偻ㄟ^液氮制冷，減輕了離子照射時(shí)對(duì)樣品造成的熱損傷。
?、诳梢杂糜谥苽銽EM的薄膜樣品和SEM的截面樣品。
?、劾鋮s保持時(shí)間長，大大減少了熱損傷。
?、茉谘b有液氮的情況下，也可以交換樣品。
*最大樣品尺寸:2.8mm(長度)×1.0 mm(寬度)×0.1mm(厚度)。
上一個(gè)：
返回列表
