產(chǎn)品中心
Product Center當前位置:首頁產(chǎn)品中心掃描電子顯微鏡JSM-IT510日本電子SEM
JSM-IT510 InTouchScope™ 日本電子SEM不僅是開展科研工作所不可少的工具,對于需要品控的制造工廠也是*。 在這些場景中,用戶需要重復執(zhí)行相同的觀察操作,因此快速完成這些操作有助于提高工作效率。 JSM-IT510 新增的“簡單 SEM"功能,用戶可將 SEM 觀察所需的“手動重復操作交給它",從而更高效、更輕松地完成 SEM 觀察。
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產(chǎn)品分類article
相關(guān)文章品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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價格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 冷場發(fā)射 |
應用領域 | 化工,電子,綜合 |
水 NEW日本電子SEM
只需選擇目標視野“簡單SEM"支持日常工作。
樣品:電子元件
加速電壓:15 kV,放大倍數(shù):×50(上部)×1,000(下部),信號:BE
JSM-IT510 InTouchScope™日本電子SEM樣品交換導航
從樣品交換引導至自動觀察安全簡單!
1.按照導航指南設置樣品
測量樣品高度
2.準備抽真空觀察
*1樣品臺導航系統(tǒng)(SNS)是選配件
*2大區(qū)域樣品臺導航系統(tǒng)(SNSLS)是選配件
*3樣品室相機(CS)是選配件
3.自動開始觀察
真空完成后自動成像
ZeromagJSM-IT510 InTouchScope™日本電子顯微鏡輕松實現(xiàn)光學圖像與SEM圖像之間的無縫轉(zhuǎn)換
Zeromag功能簡化了導航,提供從光學圖像到SEM圖像的無縫過渡。
SEM、光學圖像和樣品臺示意圖全部鏈接在一起,以獲得分析位置的全局視圖。
樣品:菊石化石加速電壓:7kV信號:BE
實時分析/實時引導圖*2
1.SEM觀察的同時掌握該區(qū)域的元素組成
實時分析是一項在圖像觀察期間實時顯示EDS光譜或元素圖的功能。此功能支持搜索目標元素并提供警示。
2.簡單分析最多點擊3次即可開始EDS分析
多種高級選項
1.NEW低真空混合二次電子探測器(LHSED)*
該新型探測器可以收集電子和光子信號,并提供具有高信噪比和增強形貌信息的圖像
2.NEW實時3D新多向分割BE探測器*獲得的圖像可以顯示為實時3D圖像。
即使樣品具有細微的表面起伏,實時3D也可以直觀的將其清晰的表現(xiàn)出來,并獲取其深度信息。
樣品:螺釘加速電壓:15kV放大倍數(shù):x100信號:BE
3.蒙太奇
蒙太奇功能可以自動獲取多個小視野的圖像并將這些圖像拼接成一張更大視野的圖像。
樣品:菊石化石
加速電壓:15kV放大倍數(shù):x150信號:BE視野數(shù):13 x 13
4.顯示信號深度
此功能實時顯示被測樣品的分析深度(近似數(shù)值),對元素分析非常有用。