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離子切片儀

產(chǎn)品簡介

EM-09100IS 離子切片儀用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6°）的氬離子束通過遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質(zhì)量也好，對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。

產(chǎn)品型號：EM-09100IS
更新時間：2024-09-01
廠商性質(zhì)：代理商
訪問量：1924

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       EM-09100IS離子切片儀用于TEM、STEM、SEM、EPMA和AUGER樣品制備的創(chuàng)新方法：制備薄膜樣品除了需要將樣品切成矩形薄片外，不需要溶劑或化學(xué)試劑及前處理（打磨或凹坑研磨），比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6°）的氬離子束通過遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質(zhì)量也好，對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。

　　EM-09100IS離子切片儀的主要特點:高質(zhì)量的透射電鏡樣品的前處理快速制備無需復(fù)雜的前處理。

　　1.度的表面損傷。

　　2.高質(zhì)量的透射電鏡樣品的前處理。

　　3.快速制備。

　　4.無需復(fù)雜的前處理。

　　5.最小限度的表面損傷。

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