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當前位置:首頁產品中心電子探針顯微分析儀JXA-iSP100 電子探針顯微分析儀

JXA-iSP100 電子探針顯微分析儀

產品簡介

JXA-iSP100 電子探針顯微分析儀在保持高局部微量元素分析性能的同時,追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進行觀察分析和操作,是更先進的一體化EPMA。

產品型號:
更新時間:2024-09-01
廠商性質:代理商
訪問量:495

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品牌其他品牌供貨周期兩周
應用領域化工,電子,綜合

JXA-iSP100 電子探針顯微分析儀在鋼鐵、汽車、電子零件和電池材料等各種工業(yè)領域,作為研究開發(fā)和分析工具被廣泛使用,其用途越來越廣。此外,在學術領域 ,地球空間科學、材料科學領域也在廣泛使用,礦物等資源能源研究、各種新型材料研究等,期待在各種各樣前沿研究中做出貢獻。與此相應,在保持高局部微量元素分析性能的同時,追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。JXA-iHP100能更加有效地進行觀察分析操作,是更先進的一體化EPMA。

* EPMA是Electron Probe Microanalyzer簡稱

 JXA-iSP100 電子探針顯微分析儀

◇ [Setting]

自動定位,準確安裝樣品臺!迅速找到想觀察的點!

進樣和獲取樣品臺導航像一鍵完成。從導航像能夠分析區(qū)域。

 JXA-iHP200F用圖片2.jpg

◇ [Analysis]

充分的自動功能,誰都可以拍到高級的SEM像

繁瑣的設定也能對應,EPMA立馬進行元素分析

光學顯微鏡的自動聚焦功能與配備高精度/高速化新系統(tǒng)的SEM自動功能相結合,任誰都可以拍到高級的SEM像。

【live Analysis】

通過【live Analysis】能夠在觀察中進行篩選分析。初學者也能操作的【簡單的EPMA】。用【EPMA-XRF integration】在XRF數(shù)據的基礎上能夠進行EPMA的條件設定。用【WD/ED integration】能夠縮短分析時間。SEM、EDS、XRF、WDS、光學像的集成一體化提高了儀器的操作性能。

JXA-iHP200F用圖片5-1.jpg 

JXA-iHP200F用圖片6.jpg

通過WD/ED integration,分析時間縮短的例子

JXA-iHP200F用圖片7.jpg

integration:用這些儀器推定的元素在一體化EPMA上可以一鍵設定分光晶體的組合

 

◇ [Self Maintenance]

內置18種類校正樣品,有效進行校正

配置【分光器校正功能】減輕了定期進行分光器校正的作業(yè)而且也避免了校正樣品設定時的人為失誤;利用夜間對儀器進行校正,提高了工作效率。

按照【維護通知功能】,在必要時期對儀器進行自我維護,保持設備最佳狀態(tài)。

 JXA-iHP200F用圖片9.jpg

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維護通知功能【客戶支持工具】


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