電鏡掃描,即掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope,簡稱SEM)的工作原理,可以詳細(xì)分為以下幾個步驟:
電子源產(chǎn)生電子束:
掃描電鏡中的電子源通常采用熱陰極發(fā)射電子的方式,如熱絲或者熱發(fā)射陰極。
當(dāng)電子源受到加熱時,電子會從陰極表面發(fā)射出來,形成電子束。電子源的溫度和電流可以調(diào)節(jié),以控制電子束的強(qiáng)度和穩(wěn)定性。
電子束的加速和聚焦:
電子束經(jīng)過加速電場,使其獲得足夠的能量。
然后,通過電磁透鏡系統(tǒng)(可以是磁透鏡或電透鏡)對電子束進(jìn)行聚焦,以獲得較小的束斑尺寸。聚焦系統(tǒng)的作用是使電子束盡可能地細(xì)致和聚焦,以提高分辨率。
電子束與樣品的相互作用:
將要觀察的樣品放置在掃描電鏡的樣品臺上,并調(diào)整樣品的位置和傾斜角度。
當(dāng)電子束照射到樣品表面時,它與樣品中的原子和分子相互作用,產(chǎn)生多種信號,包括二次電子、背散射電子、散射電子、透射電子、特征X射線等。這些信號提供了關(guān)于樣品表面形貌、成分和結(jié)構(gòu)的信息。
信號的檢測和處理:
掃描電鏡使用多種探測器來收集這些信號,并將其轉(zhuǎn)換為電信號。
收集到的信號經(jīng)過放大、濾波、增益等處理后,可以轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號,并通過計算機(jī)處理和顯示。
影像的生成和顯示:
電信號經(jīng)過處理后,通過計算機(jī)系統(tǒng)生成樣品的影像。
這些影像可以以黑白或者彩色的形式顯示在顯示器上,供操作者觀察和分析。
成像原理:
掃描電子顯微鏡是利用材料表面微區(qū)的特征(如形貌、原子序數(shù)、化學(xué)成分、或晶體結(jié)構(gòu)等)的差異,在電子束作用下通過試樣不同區(qū)域產(chǎn)生不同的亮度差異,從而獲得具有一定襯度的圖像。
成像信號主要是二次電子,它們能夠反映樣品表面形貌差異的信息,即微觀形貌像。此外,背散射電子像可得到不同區(qū)域內(nèi)原子序數(shù)差別的信息,即組成分布像;特征X射線分析則可以對特定的某微區(qū)元素做定性和定量的化學(xué)成份分析。
總結(jié)來說,掃描電子顯微鏡的工作原理是通過電子束與樣品表面的相互作用,收集產(chǎn)生的各種信號,經(jīng)過處理后轉(zhuǎn)換為圖像,從而獲取樣品表面的詳細(xì)信息。這種技術(shù)具有高分辨率、大景深、動態(tài)觀察等優(yōu)點,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域。